【英文标准名称】:Insulationcoordinationforequipmentwithinlow-voltagesystems-Part5:Acomprehensivemethodfordeterminingclearancesandcreepagedistancesequaltoorlessthan2mm(IEC60664-5:2003);GermanversionEN60664-5:2003
【原文标准名称】:低压系统内设备的绝缘配合.第5部分:测定电气间隙和爬电距离等于或小于2mm的综合方法
【标准号】:EN60664-5-2003
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2004-04
【实施或试行日期】:
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:低压系统内设备的绝缘配合.第5部分:测定电气间隙和爬电距离等于或小于2mm的综合方法
【中国标准分类号】:K31
【国际标准分类号】:29_080_30
【页数】:37P;A4
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:StandardTestInterfaceLanguage(STIL)forDigitalTestVectorData-CoreTestLanguage(CTL)
【原文标准名称】:数字检测矢量数据的标准测试接口语言(STIL).芯子测试语言(CTL)
【标准号】:ANSI/IEEE1450.6-2005
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2005-12-29
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:芯片;数字的;环境;外部;界面;语言;逻辑;;试验
【英文主题词】:Chips;Digital;Environment;External;Interfaces;Languages;Logic;Testdata;Tests
【摘要】:DevelopsalanguagethatwillprovideasufficientdescriptionofacoretosupportreuseoftestdatadevelopedforthatcoreafterintegrationintoSoC[SystemsonChip]environments,andtoenablethecreationoftestpatternsforthelogicintheSoCexternaltothecore.
【中国标准分类号】:L74
【国际标准分类号】:35_060
【页数】:
【正文语种】:英语