JIS X6305-3-2002 识别卡.试验方法.第3部分:带触点和相关接口器件的集成电路卡
作者:标准资料网
时间:2024-05-20 06:37:40
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【英文标准名称】:Identificationcards--Testmethods--Part3:Integratedcircuit(s)cardswithcontactsandrelatedinterfacedevices
【原文标准名称】:识别卡.试验方法.第3部分:带触点和相关接口器件的集成电路卡
【标准号】:JISX6305-3-2002
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:2002-10-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonInformationTechnology
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:この規格は,JISX6301に基づく識別カードの特性評価試験方法について適用する。
【中国标准分类号】:L64
【国际标准分类号】:35_240_15
【页数】:50P;A4
【正文语种】:日语
【原文标准名称】:识别卡.试验方法.第3部分:带触点和相关接口器件的集成电路卡
【标准号】:JISX6305-3-2002
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:2002-10-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonInformationTechnology
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:この規格は,JISX6301に基づく識別カードの特性評価試験方法について適用する。
【中国标准分类号】:L64
【国际标准分类号】:35_240_15
【页数】:50P;A4
【正文语种】:日语
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